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X-RAY膜厚仪

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  • 更新时间:2023年07月18日
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  • 参数说明
铜上镀银测厚仪韩国先锋XRF-2000电镀层测厚仪测量电子电镀,五金电镀,化学镀层厚度可测量镀层膜厚:如镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀铬,镀锌镍合金等韩国XRF-2000系列X-RAY膜厚仪全自动台面自动雷射对焦多点自动测量(方便操作人员准确快捷检测样品)测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)镀层厚度测试范围:0.03-35um可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀金,镀锌镍合金等)(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等)多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金.铁是镀铜镀镍再镀银等)合金镀层:如铁上镀锡铜,等测量时间:10-30秒精度控制:一层:±5%以内第二层:±8%以内第三层:±12%以内XRF-2000镀层测厚仪共分三种型号不同型号各种功能一样机箱容纳样品大小有以下不同要求XRF-2000镀层测厚仪型号介绍XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cmXRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cmXRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品韩国先锋MicorPionnerXRF-2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度等。可测元素范围:钛(Ti)–铀(U)原子序22–92准直器:固定种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型1×0.4mm自动种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型0.05×0.4mm电脑系统:彩色打印机综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能电镀镀银X射线无损测厚仪检测电子电镀,化学电镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...可测单层,双层,多层,合金镀层, 详细介绍>>
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