G200M激光平面干涉仪

详细介绍G200M型平面干涉仪:为中国首款标准镜有效口径达到200mm的平面干涉仪，改善提高了大口径光学系统和光学元件测试精度，弥补了国内使用有效口径150mm的干涉仪测试大尺寸光学系统和光学元件，不能全口径测试的不足。主要用途：平面类光学元件（包括玻璃、金属、陶瓷等）表面面形、光学平行度和材料均匀性的测试；准直系统波前质量的测试。仪器规格参数表产品型号G200M类型菲索干涉原理测试口径◇200mm标准镜材料熔石英（康宁7980）光源He-Ne激光（632.8nm）光路切换对准（十字叉丝）与测试（干涉场）模式电控切换显示方式计算机或独立监视器实时显示平面透过标准镜PV：优于λ/20，可定制更高精度标准镜平面反射标准镜标配衰减过滤片标配仪器尺寸(长X宽X高)500X500X1100mm仪器重量100KG电源AC100-240V50/60Hz（附注：更大口径平面干涉仪可依据客户需求定制）仪器特点◇精度高：标准镜精度高，且材料经过精密退火处理，稳定可靠；◇结构灵活：立式和卧式两种结构。立式适合测量光学元件，卧式适合测试光学系统；◇调整方便：通过切换开关选择对准与干涉场两种显示模式，方便调整；◇条纹真实：优良的光学设计，精密的系统装保证得到清晰、准确、真实的干涉条纹；◇性能优良：仪器具备良好的隔振性能，适合光学加工现场使用；◇配件丰富：选配密封罩，可将测试腔与外界气流隔离，降低测试过程中气流扰动，提高判断的准确性。选配衰减过滤片，可以测量镀高反膜元件。 详细介绍>>

上海乾曜光学科技有限公司 （未核实）

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