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150㎜平面干涉仪上海乾曜光学科技

  • 产品报价:¥ 100000 元/台
  • 供 货 量:10台
  • 更新时间:2018年06月29日
  • 浏 览 量:5139 次
  • 参数说明
G150M型平面干涉仪:专为计量级测试的需求设计,适用于计量机构检定和校准光学平晶。其集高性能、长寿命氦氖激光器,1-6.7倍图像放大功能,高精度的成像系统和图像采集系统,精密平面标准镜等一系列高精技术,通过优化光学系统和机械系统结构,实现高精密平面光学元件的测量。选配静态干涉条纹分析软件,实现数字化测量。G150S为G150M:的简化版本,适合光学车间的现场检验。主要用途:平面类光学元件(包括玻璃、金属、陶瓷等)表面面形、光学平行度和材料均匀性的测试;准直系统波前质量的测试。仪器规格参数表产品型号G150MG150S有效通光口径152.4mm(6英寸)测量方式菲索干涉原理光源氦氖激光(632.8nm)半导体激光器(635nm)连续变焦倍数1-6.7倍固定倍率光路切换对准(十字叉丝)与测试(干涉场)模式电控切换显示方式计算机或独立监视器实时显示监视器实时显示平面透过标准镜PV:优于λ/20,可定制更高精度标准镜平面反射标准镜标配选配衰减过滤片标配选配仪器尺寸(长X宽X高)500X500X1070mm仪器重量80KG电源AC100-240V50/60Hz(附注:更大口径平面干涉仪可依据客户需求定制)仪器特点◇精度高:标准镜精度高,且材料经过精密退火处理,稳定可靠;◇调整方便:可通过切换开关选择对准与干涉场两种显示模式,方便调整;◇条纹真实:优良的光学设计,精密的系统装保证得到清晰、准确、真实的干涉条纹;◇性能优良:仪器具备良好的隔振性能,适合光学加工现场使用;◇配件丰富:标配密封罩,可将测试腔与外界气流隔离,降低测试过程中气流扰动,提高判断的准确性。配合衰减过滤片,可以测量镀高反膜元件。 详细介绍>>
  • 联系方式

上海乾曜光学科技有限公司 (未核实)

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