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全自动二维测高仪

  • 产品报价:¥ 998 元/台
  • 供 货 量:500台
  • 更新时间:2012年07月09日
  • 浏 览 量:4507 次
  • 参数说明
Tesamicrohite350600900二维测高仪TESA测高仪的功能特点:TESA测高仪是一台独立电源的测高仪。它适用于测量外表面、内表面、台阶、深度和间距的尺寸,它还适用于测量形状和位置误差,例如垂直度和直线度。本测高仪是一个模组化设计系统,故用户可根据使用要求,选购所需要的部分。操作者能借助内装电子泵产生的气垫,轻快地使测高仪在平面上移动。被测值即刻在控制台上显示、无需操作者作费时的人为运算。可作1维测量、2维测量、角度测量。可编制和执行1维或2维测量程序,包括公差和统计计算(X、CP、CPK、等)可存储99个测量程序,每个程式可64个参数,共可存储3000个测量结果。长度标准采用光栅。为了保证仪器精度长期不变,测量头的自动装置和导轨系统是相互分开的悬挂式。不论测高度,还是测垂直度、直线度,对系统误差均进行修正,从而提高了测量精度。可在内置打印机上打印,也可输出到外接打印机在A4纸上打印。测圆表面时,可自动搜索到转折点。测头直径值自动补偿,即可作补偿测头直径值的测量。测量时也可表示链式尺寸。可显示变动量从而用作平行度误差等的测量。测量值可直角坐标值显示,也可极坐标值显示。检测后,可以逐一对存储的测量结果进行检查,以检查有无粗大差错。可作坐标原点平移、坐标旋转,从而建立要求的坐标系。由在一圆周上均匀的几个实际圆测量,计算它们的回归圆直径,回归圆的圆心位置。使用IG-13测头,可以测垂直度、直线度,测量结果可打印曲线,可显示实际垂直度的最小二乘直线的直线度误差。对测量文件可进行检查修改、删除、复制。可提供统计分析软件。具有系统"自测"检查功能。技术描述:型号TESAMICRO-HITEplusm行程mm350600900测量范围mm365615920配标准附件mm5207701075最大允许误差mm/s(2+1.5L)μm,(L单位为米/Linm)重复性(带标准附件)μm平面测量时2s≤0.5μm孔径测量时2s≤1μm运动速度mm/s600mm/s(手动)–30mm/s(机动)触测速度mm/s7.5/157.5/157.5/15测量力N(牛顿)111机械垂直度μm579主机重量kg333845充电一次使用时间hours12小时/12配订货号00760057的测头座5758251130配订货号S07001622的测头座7459951300测高仪,高度仪,一维测高仪,一维高度仪,手动测高仪,自动测高仪,TESA高度仪,TESA测高仪,TESA一维测高仪,马尔高度仪,马尔测高仪,Digimar测高仪,Digimar高度仪,TESAHiteMAGNA测高仪,TESAHiteMAGNA高度仪,TESAHite高度仪,TESAHite测高仪,TESAMICROHITE测高仪,TESAMICROHITE高度仪. 详细介绍>>
  • 联系方式

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