QuaNix 4200/4500 覆层测厚仪
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- 更新时间:2016年02月26日
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QuaNix4200/4500覆层测厚仪的详细介绍QuaNix4200/4500覆层测厚仪技术参数型号42004500120015007500keyless基体FeFe/NFeFeFe/NFeFe、NFe、Fe/NFeFe/NFe探头形式一体一体、分体无线分体显示LCD数字显示测量范围0-3000μmFe:0-3000μmNFe:0-2000μm0-2000μm0-5000μm0-2000μm0-5000μm0-5000μm测量精度0-50μm:≤±1μm,50-1000μm:≤±1.5%,1000-2000μm:≤±2%,2000-5000μm≤±3%显示精度1μm0-999μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm工作温度-10-+60℃温度补偿0-50℃存储-1500M型7500M型keylessM型3900个测量值,999个数据组数据传输-RS232打印、电脑统计功能-平均值、最大值、最小值、标准偏差超限报警-上下限最小基体10mm×10mm最小曲率凸、凹半径:3mm/25mm凸半径:5mm,凹半径:25mm最薄基体Fe:0.2mm,NFe:0.05mm电源5号电池2节9V碱性电池1节5号电池2节重量110g130g150g130g尺寸110×60×27mm166×64×34mm110×60×24mm110×62×22mm
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