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智泰白光干涉仪

  • 产品报价:¥ 面议 元/台
  • 供 货 量:未提供
  • 更新时间:2008年12月01日
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  • 参数说明
产品特点:1、非接触式测量:避免物件受损。2、三维表面测量:表面高度测量范围为1nm---200μm。3、多重视野镜片:方便物镜的快速切换。4、纳米级分辨率:垂直分辨率可以达到0.1nm。5、高速数字信号处理器:实现测量仅需要几秒钟。6、扫描仪:采用闭环控制系统。7、工作台:气动装置、抗震、抗压。8、测量软件:基于windows操作系统的用户界面,强大而快速的运算。应用领域:1、TFT产业2、半导体3、MEMS4、高校科研5、精密加工机型SIS1200SIS2000工作台尺寸250mm×174mm350mm×350mm倾斜度±3°测量行程X:150mmY:100mmX:200mmY:200mmZ轴行程50mm100mm运动方式手动自动,马达驱动扫描速度30μm/sec垂直分辨率0.1nmCCD黑白CCD,640×480像素物镜安装架手动导引五孔式手动5个位移的可定位夹具镜头选配镜头:5×、10×、20×、50×系统参数:测量技术增强相位扫描干涉相位移动干涉放大率2.5X5X10X20X50X视场(mm)3.62×2.721.81×1.360.90×0.680.45×0.340.18×0.13横向分辨率4.72μm2.72μm1.18μm0.88μm0.64μm控制器电脑软件i2000andSNUMapWindows2000环境下运行扫描仪闭环控制抗震工作台气动装置 详细介绍>>
  • 联系方式

智泰光电科技有限公司 (未核实)

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