二维影响测量机

SVM系列影像测量机是思瑞精密自行开发的新一代的二维测量产品，其完美结合了传统光学和最新计算机图像处理技术，可以对工作平面的点，线，圆等基本元素作精密测量，操作简便省时，测量精度高，测量方法多，测量高效便捷，并且有批量检测和SPC等功能，并测量软件还可以不更新升级。凭借着SVM系列光学影像测量机强大的优秀的操作功能，优越稳定的使用性能，不更新的技术，在机械，电子，电器，模具，光学以及其他精密五金等行业中得到了广泛应用。并可以作为工程开发，绘图，产品检测等。特点：１．界面友好，易学易用。２．完善的自动寻边界及去毛刺功能，减少人为误差，提高工作效率。３.自动聚焦指示功能，使用户AutoCAD等软件接口。４.可视化编程，用户可根据导入的DXF文件进行编程，适用批量检测。５.图文并茂的报表输出功能，用户可以轻松的输出你的检测结果。技术参数型号SVM系列SVM-P系列251530204030251530204030行程(mm)x250300400250300400y150200300150200300z200200200200200200主机尺寸(mm)L700800900700800900W800800800800800800H170017001700170017001700分辨率(mm)0.001放大倍数18×to120×Camera1/2”camera工作距离(mm)100测针------MCPMCPMCP承重(kg)303030303030主机重量(kg)180240280180240280精度指标3+L/2003+L/2003+L/2003+L/2003+L/2003+L/200 详细介绍>>

思瑞测量技术(深圳)有限公司华东分公司 （未核实）

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