X-RAY膜厚仪

详细资料请致电：13761400826美国赛默飞世尔ThermoFisher（热电）公司MicronX利用X-射线荧光的非接触式的无损测试技术完美地用于微电子学、光通讯和数据贮存工业的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成分，测量厚度可以从A(埃)至μ(微米)，他也能测量多至20个元素的块状合金成分。其光束和探测器的巧妙结合加上高级的数字处理技术使得MicronX能最佳地解决你的应用。结果是ASIM（应用专用仪器测量）在准确度、精。 详细介绍>>