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激光平面干涉仪—上海宙山

更新时间:2011-03-09  浏览数:2552
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  • 图片标签:平面干涉仪,激光平面干涉仪
PG15-J型激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器,主要用于精密测量光学平面度,仪器配有激光光源(波长为6328A)。对于干涉条纹可目视,测量读数,照相留存记录。PG15-J激光平面干涉仪主要技术参数:1、第一标准平面(A面),不镀膜。工作直径:D1=Φ146mm,不平度小于0.02μm(λ/30)。2、第二标准平面(B面),不镀膜。工作直径:D2=Φ140mm,不平度小于0.03μm(λ/20)。3、准直系统:孔径F/2.8,。 详细介绍>>
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激光平面干涉仪—上海宙山

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