TT260覆层测厚仪
更新时间:2011-08-25 浏览数:2643
一、TT260涂层测厚仪功能特点:TT260涂层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,配F型测头可无损伤地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,配N型测头可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电层的厚度可使用6种测头F400、F1、F1/900、F10、N1、CN02两种测量方式:直接方式(DIRECT),成组方式(APPL)设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)可采用两种方法对仪器进行校准。
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