X射线断层扫描复合式坐标机测量中心

设备特点●全球首家将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现复杂部件高精度内外尺寸全面测量●可选配第二个Z轴，配置其他传感器（光学，探针，光纤，激光等）●Werth公司专利技术的复合式传感器技术，进一步保证CT测量数据更准确●坚固的花岗岩基座，保证机器具有高稳定性●高精密机械轴承技术及线性导轨系统，确保实现最高精度的测量●无论从设计还是结构，测量机完全满足并超出X射线使用安全标准●基于Werth公司优异的。 详细介绍>>