国产平面干涉仪150MM

G150M型平面干涉仪:专为计量级测试的需求设计，适用于计量机构检定和校准光学平晶。其集高性能、长寿命氦氖激光器，1-6.7倍图像放大功能，高精度的成像系统和图像采集系统，精密平面标准镜等一系列高精技术，通过优化光学系统和机械系统结构，实现高精密平面光学元件的测量。选配静态干涉条纹分析软件，实现数字化测量。G150S为G150M:的简化版本，适合光学车间的现场检验。主要用途：平面类光学元件（包括玻璃、金属、陶瓷等）表面。 详细介绍>>