EF－VS800系列三维光学扫描测量仪

EF－VS800系列三维光学扫描测量仪，是结合工业设计、生产中的实际情况开发的，应用于三维复杂曲面逆向设计和三维全尺寸检测的应用系统。系统采用国际最先进的外差式多频相移三维光学测量技术，单幅测量幅面大小（从150mm到3米）、测量精度、测量速度等性能都达到国际最先进水平，测量精度更高，单次测量幅面更大、抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小（工件一般不需要喷显影剂），而且能够测量表面剧烈变化的工件，三维光学扫描。 详细介绍>>