激光平面度快速测量仪

点光谱技术：激光平面度快速测量采用先进的点光谱技术，能够实现高精度的取点和扫描，确保每次测量都能达到精确度要求。多功能测量：该设备不仅可测量平面度和高度，还可以测量产品的轮廓，为多种测量需求提供一站式解决方案。广泛应用：特别适用于手机行业，如手机中框的平面度和高度测量，以及手机盖板后盖的平面度和弧高测量。双激光功能：独特的双激光设计使其可以同时测量两片产品，将测量效率提高了2倍。四工位夹具设计：具有。 详细介绍>>