CST-50冲击试样缺口投影仪
更新时间:2009-08-26 浏览数:2748
一、产品说明:该仪器为检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。最佳符合广大用户的实际需求和GB/T229—94《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求,利用光学投影方法,将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上,与标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格。具有操作简便,检查对比直观,效率高等优点,是目前唯一切实可行、并能保证检查质量的冲击试样缺口检查方法,是相。
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