国产平面干涉仪150MM

G150M型平面干涉仪:专为计量级测试的需求设计，适用于计量机构检定和校准光学平晶。其集高性能、长寿命氦氖激光器，1-6.7倍图像放大功能，高精度的成像系统和图像采集系统，精密平面标准镜等一系列高精技术，通过优化光学系统和机械系统结构，实现高精密平面光学元件的测量。选配静态干涉条纹分析软件，实现数字化测量。G150S为G150M:的简化版本，适合光学车间的现场检验。主要用途：平面类光学元件（包括玻璃、金属、陶瓷等）表面面形、光学平行度和材料均匀性的测试；准直系统波前质量的测试。仪器规格参数表产品型号G150MG150S有效通光口径152.4mm（6英寸）测量方式菲索干涉原理光源氦氖激光（632.8nm）半导体激光器（635nm）连续变焦倍数1-6.7倍固定倍率光路切换对准（十字叉丝）与测试（干涉场）模式电控切换显示方式计算机或独立监视器实时显示监视器实时显示平面透过标准镜PV：优于λ/20，可定制更高精度标准镜平面反射标准镜标配选配衰减过滤片标配选配。 详细介绍>>