白光干涉仪，扫描白光激光干涉显微仪

扫描白光干涉显微仪产品特点及用途结合光学显微镜与白光干涉仪功能的扫描式白光干涉显微镜，结合显微物镜与干涉仪、不需要复杂光调整程序，兼顾体积小、纳米分辨率、易学易用等优点，可提供垂直扫描高度达400um的微三维测量，适合各种材料与微组件表面特征和微尺寸检测。应用领域包含：●晶体（Wafer）●光盘/硬蝶（DVDDisk/HardDisk）●平面电组件（MEMSComponents）●平面液晶显示器（LCD）●高密度线路印刷电路板（HDIPCB）●IC封装（ICPackage）以上其它材料分析与组件微表面研究专业级的3D图形处理与分析软件（PostTopo）●提供多功能又具亲和接口的3D图形处理与分析●提供自动表面平整化处理功能●提供高阶标准片的软件自校功能●深度/高度分析功能提供线型分析与区域分析等两种方式●线型分析方式提供直接追溯ISO定义的表面粗糙度（Rorghness）与起伏度（waviness）的测量分析。可提供多达17种的ISO量测参数与4种额外量测数据●区域分析方式提供图形分析与统计分析。具有平滑化、锐化与数字过滤波等多种二维快速利叶转换（FFT）处理功能。●量测分析结果以BMP等多种图形档案格式输出或是Excel文本文件格式输出 详细介绍>>

上海宙山精密光学仪器有限公司 （未核实）

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