扫描白光干涉显微仪
产品特点及用途
结合光学显微镜与白光干涉仪功能的扫描式白光干涉显微镜,结合显微物镜与干涉仪、不需要复杂光调整程序,兼顾体积小、纳米分辨率、易学易用等优点,可提供垂直扫描高度达400um的微三维测量,适合各种材料与微组件表面特征和微尺寸检测。应用领域包含:
● 晶体(Wafer)
● 光盘/硬蝶(DVD Disk/Hard Disk)
● 平面电组件(MEMS Components)
● 平面液晶显示器(LCD)
● 高密度线路印刷电路板(HDI PCB)
● IC封装(IC Package)
以上其它材料分析与组件微表面研究
专业级的3D图形处理与分析软件(Post Topo)
● 提供多功能又具亲和接口的3D图形处理与分析
● 提供自动表面平整化处理功能
● 提供高阶标准片的软件自校功能
● 深度/高度分析功能提供线型分析与区域分析等两种方式
● 线型分析方式提供直接追溯ISO定义的表面粗糙度(Rorghness)与起伏度
(waviness)的测量分析。可提供多达17种的ISO量测参数与4种额外量测数据
● 区域分析方式提供图形分析与统计分析。
具有平滑化、锐化与数字过滤波等多种二维快速利叶转换(FFT)处理功能。
● 量测分析结果以BMP等多种图形档案格式输出或是Excel文本文件格式输出
注:联系我时,请说是在“傲立机床网”上看到的,谢谢!