XRF2000荧光镀层测厚仪

详细资料请电：１３７６１４００８２６韩国MicroPioneerXRF-2000系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的首选.可测量各类金属层、合金层厚度.可测元素范围：钛(Ti)–铀(U)可测量厚度范围：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μmX-射线管：油冷,超微细对焦高压：0-50KV(程控)准直器：固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm电脑系统：IBM相容,17”显示器综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层,合金镀层.镀液分析:可分析镀液的主成。 详细介绍>>