X-RAY膜厚仪
- 产品报价:¥ 23万 /台
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- 更新时间:2023年11月27日
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详细资料请致电:13761400826美国赛默飞世尔ThermoFisher(热电)公司MicronX利用X-射线荧光的非接触式的无损测试技术完美地用于微电子学、光通讯和数据贮存工业的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成分,测量厚度可以从A(埃)至μ(微米),他也能测量多至20个元素的块状合金成分。其光束和探测器的巧妙结合加上高级的数字处理技术使得MicronX能最佳地解决你的应用。结果是ASIM(应用专用仪器测量)在准确度、精密度、和重现性上具有独一无二的性能。应用:集成电路制造、微电子器件、光/微波通信器件、磁记录器件等.用于集成电路凸点金属化层(凸点下底部金属化UBM技术)、柔性PCB板、框架、晶圆、激光器、微波器件、薄膜磁头等镀膜(镀层)叠层的测厚及材料分析型号:VXR:真空测量环境,增加灵敏度和测定范围GXR:斑点小,样品量大MXR:高性能,精密,分辨ZXR/LXR:用于小样品的经济型MicronX主要规格光学准直多种硅片定位选购件精密样品定位5级光。
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