手机干涉仪S5U-PH

S5U-PH激光干涉仪S5U-PH激光干涉仪为3D屏及全面屏摄像孔检测而定制，可以满足条纹非常密集、超大像差（PV值非常大）状况下的准确测量。一、仪器规格参数S5U-PH激光干涉仪为3D屏及全面屏摄像孔检测而定制，可以满足条纹非常密集、超大像差（PV值非常大）状况下的准确测量。仪器规格参数表硬件部分：产品型号S5U-PH产品名称5mm正立式激光干涉仪测试口径Φ5mm辅助对准口径Φ30mm标准镜面形精度λ/20光源进口半导体激光器（635nm)光路切换辅助观察（Φ30mm大视场）与测试（Φ5mm小视场）模式电控切换电源AC220V50HZ软件部分：软件名称移相算法（简称PH）分析项目透过波前PV值、平行度Tilt值等测试重复性PV：0.01λRMS:0.003λ测试允许误差PV<1λ时PV：0.05λTilt：0.25fr（零场调整为1根条纹）1λ<PV<2λ时PV：0.1λTilt：0.5fr（零场调整为1根条纹）测试时间1.5秒 详细介绍>>