简介
TR Scan, 毫无疑问, 将成为非接触表面形貌测量领域最引人注目的创举. 其系统核心采Trimos DHM®技术, 广泛应用于生物及医药工程领域. 系统本身基于对表面结构的物理全息特征分析, 此技
术被Trimos独特地用于工业表面检测, 与传统非接触表面测量仪器相比, 它可测量高反射表面, 镜面
经过抛光或者很小的部件TR Scan在满足高速测量的同时, 也保证了纳米级精度, 只需几微秒就可以获得百万点三维图形. 正是因为如此快的速度, 消除了因振动带 来的所有误差, 由此克服光学测量系统的传统误差.
其测量头可兼容探针(接触式测量), 并可与其他光学测量传感器互换使用, 复合式的测量解决方案, 可检定各种表面结构, 应用于各行各业: 机械工业(所有加工表面), 汽车, 航天航空, 表面涂敷, 聚合涂层, 光学元件, 医学仪器, 假肢制造, 微型机电系统, 造纸, 半导体, 科研机构以及计量单位.
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极快的测量速度
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抗振动性高
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Z轴纳米级分辨率
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激光找正迅速实现工件定位
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非接触式测量, 无损检测
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曲线及表面分析
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自学习编程测量模式
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可兼容各种2D及3D标准
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Trimos® NanoWare
Trimos® NanoWare软件控制测量过程及分析结果. 模块化的概念满足不同的要求及持续性开发.
NanoWare仅能完成测量结果的分析评估, 并能生成专业的检测报告.拥有国际权威的评价标准程序来实时更新国际标准测量符合以下标准: ISO(4287, 4288, 11562, 1101, 12085, 13563, 等), 法国标准NF, 制造标准CNOMO, ASME(B46.1)和DIN标准; 三维表面特征数据标准ISO 25178系列
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操作简便, 界面友好
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功能灵活, 可二次开发
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全自动测量
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用户自定义测量标准
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包含所有2D及3D标准
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Trimos® NanoWare LT
2D轮廓测量分析基本模块. 使用极其简单, 此模块包
括评估表面参数的部分重要功能
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轮廓, 粗糙度, 波度分析
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最关键参数(Ra, Rq, Rt, ...)
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线材比率曲线
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成型, 拉平, 视图等滤波器
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所有测量可复现三维形貌
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Trimos® NanoWare XT
2D轮廓测量分析完整模块, 此模块基本包括专
业级软件所有功能
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包含RLq, RLo, RPC, RzJIS, R3z ...
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光谱线及形态分析
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测量点管理/再采集
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主题相关参数
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形貌及自相关联分析
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所有测量可复现三维形貌
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显示/软件
Trimos® NanoWare STT
3轴测量基本模块. 包含分析轮廓的所有功能及符合ISO 25178表面分析
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3D基本参数(Sa, Sq, St, Smr, ...)
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表面图形仿真
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距离, 高度及角度测量
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成型, 拉平, 视图等滤波器
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最终结果管理
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测量点管理/再采集
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轮廓提取, 体积测量
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市场上最高性能的软件
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表面图层研究
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3D形貌鉴定
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颗粒度研究
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纹理分析
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表面及轮廓统计分析及研究
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主机
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TR Scan
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100
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200
|
300
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X轴测量范围 mm
|
--
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100
|
100
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|
Y轴测量范围 mm
|
--
|
--
|
100
|
|
Z轴垂直位移范围 mm
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240
|
||
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XYZ定位精度 um
|
1
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||
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仪器重量 kg
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800.25X0.25
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||
DHM测量头
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DHM
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S2
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垂直最大分辨率(Z轴) nm
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0.1
|
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最大测量范围(Ra) um
|
1
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最大测量范围(Rz) um
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5
|
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最大允许误差(Ra) %
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1%
|
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重复性(Ra, 1σ) nm
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<0.1
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样品反射率 %
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<1%-100%
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测量视野 mm
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0.25X0.25
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技术参数
色谱共焦测量头
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CCMP
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CL 1
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CL 2
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CL 3
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CL 4
|
CL 5
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CL 6
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垂直测量范围 um
|
100
|
300
|
1100
|
3000
|
10000
|
20000
|
|
工作距离 mm
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3.3
|
11
|
12.7
|
16.4
|
29
|
19.6
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轴向分辨率 um
|
0.005
|
0.012
|
0.025
|
0.075
|
0.280
|
0.600
|
|
轴向精度 um
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0.02
|
0.06
|
0.2
|
0.4
|
0.9
|
3
|
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最大爬坡能力 deg
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+/-43
|
+/-28
|
+/-27
|
+/-22
|
+/-14
|
+/-8.6
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接触式测量头
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DIA
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P1
|
|
垂直最大分辨率(Z轴) nm
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10
|
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最大测量范围(Ra) um
|
10
|
|
最大测量范围(Rz) um
|
200
|
|
最大允许误差(Ra) %
|
5%
|
|
重复性(Ra, 1σ) nm
|
<9
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注：联系我时，请说是在“傲立机床网”上看到的，谢谢！
